Garra para Testes em CI e Chip SMD com Conexão Dupla para Jumper – Kit com 2 Unidades

A Garra para testes em CI e Chip SMD P5003 é o produto ideal para quem necessita de praticidade e qualidade durante a realização de testes em sistemas elétricos por meio de multímetros ou para alimentação de componentes.
O principal diferencial desta modelo para outros similares deve-se a possibilidade de dupla conexão com jumpers, permitindo rápido e simples encaixe, sem necessidade de utilizar de soldagens demoradas ou delicadas em seus terminais.
Seu pequeno tamanho também é destaque, possuindo um pequeno sistema de pinças na ponta produzidas em cobre, as quais são ideais para agarrar pequenos componentes, incluindo CI e Chips SMD de placas eletrônicas.
Na parte de trás da Garra para testes em CI e Chip SMD P500 encontra-se um local específico que, quando pressionado, faz com que as pontas retráteis fiquem amostra, permitindo a conexão.